Главная » Химия для вузов » Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей

В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей

Автор: В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов
Языки: Русский
Издательство: Флинта, Наука
ISBN 978-5-9765-0207-9, 978-5-02-034811-0; 2007 г.
Страниц: 224 стр.
Формат: 60x88/16 (150x210 мм)
Тираж: 1000 экз.
Переплет: Твердый переплет

431 руб.

Заказать в интернет-магазине

От производителя

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорент-геноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.

Для студентов и преподавателей технических вузов.

От OZON.ru

2-е издание.